鏡面式
不同水份含(han)量(liang)的(de)(de)氣(qi)體(ti)在(zai)不同溫度下(xia)的(de)(de)鏡面(mian)上會結露(lu)(lu)(lu)(lu)(lu)。采(cai)用(yong)光電檢測技術，檢測出(chu)露(lu)(lu)(lu)(lu)(lu)層并(bing)測量(liang)結露(lu)(lu)(lu)(lu)(lu)時(shi)的(de)(de)溫度，直(zhi)(zhi)接顯示(shi)露(lu)(lu)(lu)(lu)(lu)點。鏡面(mian)制冷(leng)的(de)(de)方法有：半導體(ti)制冷(leng)、液(ye)氮制冷(leng)和高(gao)壓空(kong)氣(qi)制冷(leng)。鏡面(mian)式露(lu)(lu)(lu)(lu)(lu)點儀采(cai)用(yong)的(de)(de)是直(zhi)(zhi)接測量(liang)方法，在(zai)保證(zheng)檢露(lu)(lu)(lu)(lu)(lu)準確、鏡面(mian)制冷(leng)率和精(jing)密測量(liang)結露(lu)(lu)(lu)(lu)(lu)溫度前(qian)提下(xia)，該種(zhong)露(lu)(lu)(lu)(lu)(lu)點儀可(ke)作為標準露(lu)(lu)(lu)(lu)(lu)點儀使(shi)用(yong)。目前(qian)上zui高(gao)精(jing)度達到(dao)±0.1℃(露(lu)(lu)(lu)(lu)(lu)點溫度)，一般精(jing)度可(ke)達到(dao)±0.5℃以內電傳(chuan)感(gan)器式露(lu)(lu)(lu)(lu)(lu)點儀
采(cai)用親水性材料或(huo)憎水性材料作為介(jie)質(zhi)，構成電容(rong)或(huo)電阻，在含水份的氣體流經(jing)后，介(jie)電常數或(huo)電導率發生相應變化，測出當(dang)時的電容(rong)值(zhi)或(huo)電阻值(zhi)，就能知道(dao)當(dang)時的氣體水份含量。建立在露點單位制上(shang)設(she)計的該類傳(chuan)感器，構成了電傳(chuan)感器式露點分(fen)析(xi)儀。目前上(shang)zui高精度達(da)到(dao)(dao)±1.0℃(露點溫度)，一般精度可達(da)到(dao)(dao)±3℃以內。
電解法露點儀
利用五氧化二磷等材料吸濕后分(fen)解(jie)成極性分(fen)子(zi)，從而在電(dian)極上積累電(dian)荷(he)的(de)特性，設計出建立在含(han)濕量單(dan)位制上的(de)電(dian)解(jie)法(fa)微水份(fen)儀。
晶體振蕩式露點(dian)儀
利用晶體沾濕后(hou)振蕩頻率(lv)改變(bian)的特性，可以設(she)計晶體振蕩式露(lu)點儀。這是一項較新的技術(shu)，尚處于不十分成熟(shu)的階段。國外有相(xiang)關產品(pin)，但精度較差且(qie)成本很高。
紅外(wai)露點儀(yi)
利用氣(qi)體(ti)中的水份(fen)對紅外(wai)光(guang)譜(pu)吸收的特性，可以設計(ji)紅外(wai)式露點儀。該儀器(qi)很難(nan)測到(dao)低露點，主要(yao)是紅外(wai)探測器(qi)的峰值(zhi)探測率(lv)還不能達到(dao)微量水吸收的量級，還有氣(qi)體(ti)中其他成份(fen)含量對紅外(wai)光(guang)譜(pu)吸收的干擾。但這(zhe)是一項(xiang)很新的技(ji)術，對于環境(jing)氣(qi)體(ti)水份(fen)含量的非接(jie)觸式在線監測具(ju)有重要(yao)的意義。
半導體傳感器
每個水分子(zi)都具有(you)其自然振(zhen)(zhen)動頻(pin)率(lv)，當它進入半(ban)導(dao)體(ti)(ti)(ti)晶格的(de)空隙時(shi)，就和受到充電(dian)激勵的(de)晶格產生共振(zhen)(zhen)，其共振(zhen)(zhen)頻(pin)率(lv)與水的(de)摩爾數成正比。水分子(zi)的(de)共振(zhen)(zhen)能使半(ban)導(dao)體(ti)(ti)(ti)結放出自由(you)電(dian)子(zi)，從而使晶格的(de)導(dao)電(dian)率(lv)增大，阻抗減小。利用這一(yi)特性設(she)計的(de)半(ban)導(dao)體(ti)(ti)(ti)露點(dian)儀可(ke)測到-100℃露點(dian)的(de)微量(liang)水份(fen)。
重量(liang)法
是(shi)一(yi)種經(jing)典的(de)(de)(de)測(ce)量方(fang)法(fa)。讓所(suo)測(ce)樣(yang)(yang)氣流(liu)經(jing)某一(yi)干燥劑，其(qi)所(suo)含(han)水(shui)(shui)分被干燥劑吸收(shou)，稱取干燥劑吸收(shou)的(de)(de)(de)水(shui)(shui)分含(han)量，與樣(yang)(yang)氣體(ti)(ti)積之比即為(wei)樣(yang)(yang)氣的(de)(de)(de)濕(shi)(shi)度(du)(du)。該方(fang)法(fa)的(de)(de)(de)優點是(shi)精度(du)(du)高(gao)，zui大允(yun)許誤(wu)差可達(da)0.1%；缺點是(shi)具(ju)體(ti)(ti)操(cao)作(zuo)比較困(kun)(kun)難，尤其(qi)是(shi)必(bi)(bi)須得到足夠量的(de)(de)(de)吸收(shou)水(shui)(shui)質量（一(yi)般不小于(yu)0.6克(ke)），這對于(yu)低濕(shi)(shi)度(du)(du)氣體(ti)(ti)尤其(qi)困(kun)(kun)難，必(bi)(bi)須加大樣(yang)(yang)氣流(liu)量，結(jie)果會導致測(ce)量時間和誤(wu)差增大（測(ce)得的(de)(de)(de)濕(shi)(shi)度(du)(du)不是(shi)瞬時值(zhi)）。因而該方(fang)法(fa)只(zhi)適合于(yu)測(ce)量露點-32℃以上的(de)(de)(de)氣體(ti)(ti)，可以說市場上純粹利用該方(fang)法(fa)測(ce)濕(shi)(shi)度(du)(du)的(de)(de)(de)儀器較少(shao)。
由以上(shang)分析可知，重量(liang)(liang)(liang)法(fa)的關(guan)鍵是怎樣測量(liang)(liang)(liang)干燥劑吸(xi)收(shou)(shou)的水分含(han)量(liang)(liang)(liang)，因為(wei)直接測量(liang)(liang)(liang)比較(jiao)困難(nan)，由此衍生了兩種間接測量(liang)(liang)(liang)吸(xi)收(shou)(shou)水含(han)量(liang)(liang)(liang)的方法(fa)。
電解(jie)法(fa)
就是(shi)將干(gan)燥劑吸收的水分(fen)經電(dian)(dian)(dian)解(jie)(jie)池電(dian)(dian)(dian)解(jie)(jie)成氫氣(qi)和氧氣(qi)排(pai)出，電(dian)(dian)(dian)解(jie)(jie)電(dian)(dian)(dian)流的大小與水分(fen)含(han)量成正比，通過檢測(ce)(ce)該電(dian)(dian)(dian)流即可測(ce)(ce)得(de)樣氣(qi)的濕(shi)度。該方(fang)法彌(mi)補了重量法的缺(que)點，測(ce)(ce)量量程可達-80℃以下，且(qie)精度較好，價格便(bian)宜；缺(que)點是(shi)電(dian)(dian)(dian)解(jie)(jie)池氣(qi)路需要(yao)在(zai)使(shi)用前干(gan)燥很長(chang)時間，且(qie)對氣(qi)體(ti)(ti)的腐蝕性(xing)及(ji)清潔性(xing)要(yao)求較高。采用該方(fang)法的儀器較多，典型的是(shi)美(mei)國Edgetech公司的1-C型微(wei)水儀和杜邦公司的M303及(ji)國產的USI系列產品。
振動(dong)頻(pin)率法
就是將重量法中的(de)(de)(de)干(gan)燥(zao)劑換用一種吸(xi)(xi)濕性的(de)(de)(de)石英(ying)晶(jing)體(ti)(ti)，根(gen)據該晶(jing)體(ti)(ti)吸(xi)(xi)收(shou)水分質量不(bu)同時振動頻率不(bu)同的(de)(de)(de)特點(dian)，讓樣(yang)氣(qi)(qi)和(he)(he)標準干(gan)燥(zao)氣(qi)(qi)流經該晶(jing)體(ti)(ti)，因而(er)產生不(bu)同的(de)(de)(de)振動頻率差△f1和(he)(he)△f2，計算兩頻率之差即可得到樣(yang)氣(qi)(qi)的(de)(de)(de)濕度。該方法具有電解法一樣(yang)的(de)(de)(de)優點(dian)，且使用前勿(wu)須干(gan)燥(zao)。典(dian)型代表儀器是英(ying)國(guo)Michell的(de)(de)(de)QMA系列、美(mei)國(guo)AMETEK公司的(de)(de)(de)560B。
冷鏡法(fa)
也(ye)是(shi)一種經典的(de)測量方(fang)法。讓樣氣流經露點(dian)冷(leng)(leng)鏡室的(de)冷(leng)(leng)凝鏡，通過等壓制(zhi)冷(leng)(leng)，使得樣氣達(da)到飽(bao)和(he)(he)結(jie)露狀態（冷(leng)(leng)凝鏡上有(you)液滴析出），測量冷(leng)(leng)凝鏡此(ci)時的(de)溫度即是(shi)樣氣的(de)露點(dian)。該方(fang)法的(de)主要(yao)優(you)點(dian)是(shi)精度高(gao)，尤其(qi)在采(cai)用半導(dao)體(ti)制(zhi)冷(leng)(leng)和(he)(he)光電(dian)檢(jian)測技術(shu)后(hou)，不確定度甚至可達(da)0.1℃；缺點(dian)是(shi)響應速度較慢(man)，尤其(qi)在露點(dian)-60℃以下，平(ping)衡時間甚至達(da)幾個小時，而且此(ci)方(fang)法對樣氣的(de)清潔性(xing)和(he)(he)腐(fu)蝕性(xing)要(yao)求也(ye)較高(gao)，否則(ze)會影響光電(dian)檢(jian)測效果(guo)或(huo)產(chan)生‘偽結(jie)露’造成測量誤差。該方(fang)法的(de)典型廠(chang)家代(dai)表是(shi)及英國Michell公司,美國GeneralEastern公司及瑞士MBW公司等。
阻(zu)容(rong)法
是一種不斷完善的(de)(de)(de)濕度(du)測(ce)量(liang)(liang)方法(fa)(fa)。利用(yong)一個高純鋁棒，表面(mian)氧化(hua)(hua)成(cheng)一層(ceng)超(chao)薄的(de)(de)(de)氧化(hua)(hua)鋁薄膜(mo)，其(qi)外鍍(du)一層(ceng)多(duo)空(kong)的(de)(de)(de)網(wang)狀金(jin)膜(mo)，金(jin)膜(mo)與鋁棒之(zhi)間(jian)形(xing)成(cheng)電(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)，由(you)于(yu)(yu)氧化(hua)(hua)鋁薄膜(mo)的(de)(de)(de)吸水(shui)特性(xing)，導致(zhi)電(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)值(zhi)隨樣(yang)氣水(shui)分(fen)的(de)(de)(de)多(duo)少而改變，測(ce)量(liang)(liang)該(gai)電(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)值(zhi)即可(ke)得到樣(yang)氣的(de)(de)(de)濕度(du)。該(gai)方法(fa)(fa)的(de)(de)(de)主要優點是測(ce)量(liang)(liang)量(liang)(liang)程(cheng)可(ke)更低，甚至達-100℃，另一突(tu)出(chu)優點是響(xiang)應(ying)速(su)度(du)非常快，從干(gan)到濕響(xiang)應(ying)一分(fen)鐘可(ke)達90%，因而多(duo)用(yong)于(yu)(yu)現場(chang)和(he)快速(su)測(ce)量(liang)(liang)場(chang)合；缺(que)點是精(jing)度(du)較(jiao)差，不確定度(du)多(duo)為±2～3℃。老化(hua)(hua)和(he)漂移嚴重，使(shi)用(yong)3~6個月必須(xu)校準。該(gai)方法(fa)(fa)的(de)(de)(de)典型(xing)廠(chang)家代表為英(ying)國(guo)Alpha濕度(du)儀器(qi)(qi)公司，愛爾蘭的(de)(de)(de)PANAMETRICS公司及美國(guo)的(de)(de)(de)XENTAUR公司。但(dan)隨著各廠(chang)家的(de)(de)(de)不斷努(nu)力，該(gai)方法(fa)(fa)正(zheng)在逐漸(jian)得到完善，例如，通過改變材(cai)料和(he)提高工藝使(shi)得傳(chuan)感器(qi)(qi)穩(wen)定度(du)大大提高，通過對傳(chuan)感器(qi)(qi)響(xiang)應(ying)曲線(xian)的(de)(de)(de)補償作到了飽和(he)線(xian)性(xing)，解決了自動(dong)校準問題。代表產品為英(ying)國(guo)Michell的(de)(de)(de)Easidew系列，采(cai)用(yong)陶瓷基底(di)的(de)(de)(de)氧化(hua)(hua)鋁電(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)及C2TX微處理器(qi)(qi)。
行業應用
露點儀（濕度(du)儀器）測(ce)量的方法可謂五花八門，其性能(neng)與價格也相差懸(xuan)殊，這(zhe)就要求我們選(xuan)用(yong)儀器時要謹(jin)慎小心(xin)，不(bu)但要考慮(lv)到(dao)性能(neng)和價格，還應(ying)該考慮(lv)到(dao)儀器使用(yong)的場(chang)合和所測(ce)氣體的種類(lei)及(ji)腐蝕性等。總體原則(ze)如下：
1）*濕度基(ji)準：考慮到要求測(ce)量(liang)準確度高(gao)，樣氣理(li)想，一般應選用(yong)冷鏡式(shi)露點儀(yi)，進(jin)口的(de)(de)如美(mei)國Edgetech公(gong)(gong)司(si)1500，美(mei)國GE公(gong)(gong)司(si)的(de)(de)M3，英國Michell的(de)(de)S4000TRS，或瑞士MBW公(gong)(gong)司(si)DP30等露點儀(yi)，用(yong)戶(hu)應根(gen)據實際量(liang)程和(he)精(jing)度選用(yong)合適的(de)(de)產品。
2）企業基準或(huo)實(shi)驗室(shi)分析：如果(guo)測量準確度要求較高，可選用冷(leng)鏡法儀器，如，美國Edgetech公司(si)(si)的(de)(de)RH-CAL和1500（性價(jia)比很(hen)高）；英國Michell公司(si)(si)的(de)(de)S4000系列產品(pin)或(huo)瑞士MBW公司(si)(si)的(de)(de)DP19；如果(guo)量程要求較低（露點-80℃以下(xia)）且氣體較清潔，可選用電(dian)解法儀器，如美國Edgetech公司(si)(si)的(de)(de)1-C，杜(du)邦公司(si)(si)的(de)(de)M303。
3）現場檢測(ce)：如果(guo)測(ce)量準確度要(yao)(yao)求(qiu)較高，可選用冷(leng)鏡法儀(yi)(yi)器(qi)（同上）；如果(guo)要(yao)(yao)求(qiu)測(ce)量速度快(kuai)或氣體污染較重，選用阻容法儀(yi)(yi)器(qi)，如美(mei)國(guo)菲美(mei)特公(gong)司的DPT500/600便攜(xie)式露點儀(yi)(yi)；英國(guo)Michell的MDM300便攜(xie)表、英國(guo)Systech、英國(guo)Alpha濕度儀(yi)(yi)器(qi)公(gong)司的SADPmini手(shou)持式露點儀(yi)(yi)或美(mei)國(guo)XENTAUR公(gong)司的XPDM等。
4）連續在(zai)線(xian)監測：如(ru)果精度要求(qiu)不(bu)太高，可選(xuan)(xuan)用阻容法(fa)儀器(qi)，如(ru)美(mei)國(guo)菲(fei)美(mei)特(te)公(gong)司的(de)(de)DPT810系(xi)列；英(ying)(ying)國(guo)Michell的(de)(de)Easidew系(xi)列、英(ying)(ying)國(guo)Systech、英(ying)(ying)國(guo)Alpha濕度儀器(qi)公(gong)司的(de)(de)DS-1000在(zai)線(xian)露(lu)點儀或新型的(de)(de)DS-2000在(zai)線(xian)露(lu)點儀，以(yi)及(ji)美(mei)國(guo)XENTAUR公(gong)司的(de)(de)XDT型，它們共(gong)同具有價格低(di)且安(an)裝調(diao)試方便的(de)(de)特(te)點；如(ru)果精度要求(qiu)較高，可選(xuan)(xuan)用美(mei)國(guo)AMETEK公(gong)司的(de)(de)560B或冷鏡式儀表。
5）天(tian)(tian)然(ran)氣防(fang)爆測量：在石化和天(tian)(tian)然(ran)氣行業，我們(men)都(dou)要(yao)求防(fang)爆處理，所(suo)以需要(yao)有特定本(ben)安防(fang)爆的(de)露點儀(yi)，比如(ru)美國(guo)菲美特公司的(de)DPT900及DPT910（天(tian)(tian)然(ran)氣在線分析系(xi)統）；GE的(de)PM8800系(xi)列露點儀(yi)、Michell的(de)DM系(xi)列等等，他們(men)都(dou)是針對石化天(tian)(tian)然(ran)氣的(de)解決方案。
6）氣(qi)(qi)體(ti)空分(fen)行(xing)業(ye)(ye)露(lu)點(dian)測量：我(wo)們知道空分(fen)行(xing)業(ye)(ye)，一般(ban)要求水分(fen)含量很低(di)(di)，露(lu)點(dian)在-70℃以(yi)下（1ppm級別(bie)），原(yuan)理上來(lai)說冷鏡式露(lu)點(dian)儀、電解法露(lu)點(dian)儀、薄膜露(lu)點(dian)儀都沒法對低(di)(di)于-80℃的(de)(de)氣(qi)(qi)體(ti)進(jin)行(xing)測量，所以(yi)還是(shi)選擇(ze)電容法原(yuan)理的(de)(de)露(lu)點(dian)儀比(bi)較合(he)適，目(mu)前(qian)做的(de)(de)比(bi)較好(hao)的(de)(de)如(ru)美國菲(fei)美特的(de)(de)DPT500/600系列露(lu)點(dian)儀（納米技術）、Michell的(de)(de)DM系列露(lu)點(dian)儀。
測量注意
鏡面污(wu)染對露點測量(liang)的(de)影響
在露(lu)(lu)(lu)點(dian)(dian)測(ce)量(liang)中(zhong)，鏡面污(wu)(wu)染是(shi)(shi)一(yi)(yi)個突(tu)出的(de)問題，其影響(xiang)主(zhu)要表現在兩個方面；一(yi)(yi)是(shi)(shi)拉(la)烏(wu)爾(er)效應(ying)，二是(shi)(shi)改(gai)變鏡面本(ben)底(di)放射(she)水(shui)平(ping)。拉(la)烏(wu)爾(er)效應(ying)是(shi)(shi)由水(shui)溶(rong)性物(wu)質造成的(de)。如(ru)果(guo)被測(ce)氣(qi)(qi)體中(zhong)攜帶這種(zhong)物(wu)質(一(yi)(yi)般是(shi)(shi)可溶(rong)性鹽類)則(ze)鏡面提前結露(lu)(lu)(lu)，使測(ce)量(liang)結果(guo)產生(sheng)正偏差(cha)。若污(wu)(wu)染物(wu)是(shi)(shi)不(bu)溶(rong)于(yu)水(shui)的(de)微粒，如(ru)灰塵等，則(ze)會(hui)增加本(ben)底(di)的(de)散射(she)水(shui)平(ping)，從(cong)而(er)使光電露(lu)(lu)(lu)點(dian)(dian)儀發生(sheng)零點(dian)(dian)漂移。此外，一(yi)(yi)些沸點(dian)(dian)比水(shui)低的(de)容易冷凝的(de)物(wu)質(例(li)如(ru)有機物(wu))的(de)蒸氣(qi)(qi)，不(bu)言而(er)喻(yu)將對露(lu)(lu)(lu)點(dian)(dian)的(de)測(ce)量(liang)產生(sheng)干(gan)擾。因(yin)此，無論任何一(yi)(yi)種(zhong)類型的(de)露(lu)(lu)(lu)點(dian)(dian)儀都應(ying)防(fang)止污(wu)(wu)染鏡面。一(yi)(yi)般說來，工業(ye)流(liu)程氣(qi)(qi)體分析污(wu)(wu)染的(de)影響(xiang)是(shi)(shi)比較嚴重的(de)。但即使是(shi)(shi)在純(chun)氣(qi)(qi)的(de)測(ce)量(liang)中(zhong)鏡面的(de)污(wu)(wu)染亦會(hui)隨(sui)時(shi)間增加而(er)積(ji)累。
測(ce)量(liang)條件的選擇
在露(lu)點(dian)儀的設計中(zhong)要著重考慮(lv)直接(jie)影(ying)響結露(lu)過(guo)程(cheng)熱質交換的各種(zhong)因素(su)，這個原則同樣適用(yong)于(yu)自動化(hua)程(cheng)度(du)不太高的露(lu)點(dian)儀器操作條(tiao)件的選擇(ze)。這里主要討論鏡面降溫速度(du)和樣氣流速問題。
1.被測氣(qi)體(ti)的溫度(du)通(tong)常都是(shi)室溫。因此當氣(qi)流(liu)通(tong)過露(lu)點(dian)(dian)室時必然要影響體(ti)系的傳(chuan)熱(re)(re)和傳(chuan)質(zhi)過程。當其它條件固定時，加大(da)流(liu)速(su)(su)(su)將有(you)利于氣(qi)流(liu)和鏡面之間的傳(chuan)質(zhi)。特別是(shi)在進行低霜點(dian)(dian)測量(liang)時，流(liu)速(su)(su)(su)應適(shi)當提高(gao)，以加快露(lu)層形成速(su)(su)(su)度(du)，但是(shi)流(liu)速(su)(su)(su)不能太(tai)大(da)，否則會造成過熱(re)(re)問題(ti)。這對制(zhi)冷功(gong)率比(bi)較小的熱(re)(re)電(dian)制(zhi)冷露(lu)點(dian)(dian)儀(yi)尤(you)為(wei)明顯。流(liu)速(su)(su)(su)太(tai)大(da)還會導致露(lu)點(dian)(dian)室壓力降低而流(liu)速(su)(su)(su)的改變(bian)又將影響體(ti)系的熱(re)(re)平(ping)衡(heng)。所以在露(lu)點(dian)(dian)測量(liang)中選擇適(shi)當的流(liu)速(su)(su)(su)是(shi)必要的，流(liu)速(su)(su)(su)的選擇應視制(zhi)冷方法和露(lu)點(dian)(dian)室的結(jie)構而定。一般(ban)的流(liu)速(su)(su)(su)范(fan)圍(wei)在0.4~0.7L﹒min-1之間。為(wei)了(le)減(jian)小傳(chuan)熱(re)(re)的影響，可考慮在被測氣(qi)體(ti)進入露(lu)點(dian)(dian)室之前進行預冷處理。
2.在(zai)露(lu)(lu)點(dian)測(ce)(ce)量中鏡(jing)面降溫速度(du)(du)的(de)(de)(de)控制(zhi)是(shi)一個重要(yao)問(wen)題，對(dui)(dui)于(yu)自動光電(dian)露(lu)(lu)點(dian)儀(yi)是(shi)由(you)設計決定的(de)(de)(de)，而對(dui)(dui)于(yu)手(shou)控制(zhi)冷(leng)量的(de)(de)(de)露(lu)(lu)點(dian)儀(yi)則是(shi)操作中的(de)(de)(de)問(wen)題。因為冷(leng)源的(de)(de)(de)冷(leng)卻(que)點(dian)、測(ce)(ce)溫點(dian)和(he)(he)鏡(jing)面間(jian)的(de)(de)(de)熱傳導(dao)有一個過程(cheng)并存在(zai)一定的(de)(de)(de)溫度(du)(du)梯度(du)(du)。所以熱慣性將影響(xiang)結(jie)露(lu)(lu)(霜)的(de)(de)(de)過程(cheng)和(he)(he)速度(du)(du)，給測(ce)(ce)量結(jie)果帶來誤差。這(zhe)種情況(kuang)又(you)隨使用的(de)(de)(de)測(ce)(ce)溫元件(jian)不(bu)同而異，例(li)如(ru)由(you)于(yu)結(jie)構關系(xi)，鉑電(dian)阻感溫元件(jian)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)量點(dian)與鏡(jing)面之間(jian)的(de)(de)(de)溫度(du)(du)梯度(du)(du)比較大，熱傳導(dao)速度(du)(du)也(ye)比較慢(man)，從(cong)而使測(ce)(ce)溫和(he)(he)結(jie)露(lu)(lu)不(bu)能同步進行。而且導(dao)致(zhi)露(lu)(lu)層的(de)(de)(de)厚度(du)(du)無法控制(zhi)。這(zhe)對(dui)(dui)目(mu)視檢露(lu)(lu)來說將產生(sheng)負誤差。
3.另(ling)一(yi)(yi)個問(wen)題是(shi)降(jiang)溫速度(du)(du)太快(kuai)可能造(zao)成“過(guo)(guo)冷(leng)(leng)”。我們知(zhi)道，在一(yi)(yi)定條(tiao)件下，水(shui)汽達到飽和(he)(he)狀態(tai)時(shi)，液相(xiang)(xiang)仍然不出現(xian)，或者水(shui)在零度(du)(du)以下時(shi)仍不結冰，這種現(xian)象(xiang)稱為(wei)過(guo)(guo)飽和(he)(he)或“過(guo)(guo)冷(leng)(leng)”。對于(yu)結露(或霜)過(guo)(guo)程來(lai)說，這種現(xian)象(xiang)往往是(shi)由于(yu)被測氣體和(he)(he)鏡面非常干凈(jing)，乃(nai)至缺少足夠(gou)數(shu)量的(de)(de)(de)(de)凝結核心而引起(qi)的(de)(de)(de)(de)。Suomi在實驗中發現(xian)，如果(guo)一(yi)(yi)個高(gao)度(du)(du)拋光的(de)(de)(de)(de)鏡面并(bing)且其干凈(jing)程度(du)(du)合(he)乎化學要求(qiu)，則露的(de)(de)(de)(de)形成溫度(du)(du)要比真實的(de)(de)(de)(de)露點(dian)溫度(du)(du)低幾度(du)(du)。過(guo)(guo)冷(leng)(leng)現(xian)象(xiang)是(shi)短暫的(de)(de)(de)(de)，共時(shi)間長短和(he)(he)露點(dian)或霜點(dian)溫度(du)(du)有(you)關。這種現(xian)象(xiang)可以通過(guo)(guo)顯(xian)微鏡觀(guan)察出來(lai)。解(jie)決(jue)的(de)(de)(de)(de)辦(ban)法之一(yi)(yi)是(shi)重(zhong)復加熱和(he)(he)冷(leng)(leng)卻鏡面的(de)(de)(de)(de)操作，直(zhi)到這種現(xian)象(xiang)消除(chu)為(wei)止。另(ling)一(yi)(yi)個解(jie)決(jue)辦(ban)法是(shi)直(zhi)接利用過(guo)(guo)冷(leng)(leng)水(shui)的(de)(de)(de)(de)水(shui)汽壓數(shu)據。并(bing)且這樣作恰恰與氣象(xiang)系統低于(yu)零度(du)(du)時(shi)的(de)(de)(de)(de)相(xiang)(xiang)對濕度(du)(du)定義相(xiang)(xiang)吻合(he)。
